AI液冷零部件、汽车零部件、航空航天、线路板、半导体、消费电子等行业

全新研发的全自动清洁度分析系统 ，可以精确快速地完成技术清洁度检测环节中的光学分析，包括标准分析和深入分析，涵盖滤膜扫描、颗粒结果复核和报表生成以及数据展现四个步骤，具有高可靠性和高精确性的检测数据结果、直观的用户操作界面，以及传统扫描速度两倍的偏光一次扫描技术等多项技术特点。

清洁度仪全自动金属和非金属识别原理：由软件控制的偏振镜组进行识别，分别在偏振镜屏蔽金属反射状态下和偏振镜转至不屏蔽金属反射状态扫描整张滤膜两次。偏振镜屏蔽金属反射状态下扫描整张滤膜，此时所有颗粒的自然形状和尺寸会被分析记录，并按照尺寸等级进行归类。在偏振镜转至不屏蔽金属反射状态下再次被扫描，金属颗粒表面会产生反射光，非金属颗粒不会。系统进行自动分析评判。通过软件比对两次扫描图片，从全部颗粒中快速识别出金属颗粒。

伽利略高倍连续变倍光学显微镜

创新光学系统“完美变倍系统”，提供 8:1 的变倍比（变倍范围为 0.8x – 6.5X）。即使是使用1X物镜，电子放大倍率8:1，可实现高分辨率宏观到微观观察和成像

自动检测分辨出微粒类型（金属、非金属、纤维）； 评价参数（长度、正交宽度、面积、纤维最大长度）；颗粒数据库管理，按时间段图形显示；按照标准 ISO16232 / VDA19 计算工件清洁度代码（CCC）；滤膜覆盖率，数据统计，颗粒数据图形化具象化月报，年报

软件自动评判级别

大图显示明场和偏振图 100%全图显示，可实时观察图像拼接状态，ID 自动定位，颗粒任意查看，图像颗粒任意查看

颗粒算法：系统分析标准中包含多种颗粒尺寸定义，结合图像算法，满足不同客户不同标准对颗粒的不同分析要求。

精准回看：对目标颗粒 ID 回溯功能,进一步测量，判断颗粒属性，使数据更可靠。